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2024-11-25
+2024-11-11
+2024-11-05
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GWZK-03A高溫精密壓電阻抗分析測量系統(tǒng)是國內(nèi)符合LXI標(biāo)準(zhǔn)的新一代高溫壓電阻抗測試儀器，其0.1%的基本精度、20Hz～5MHz的頻率范圍可以滿足元件與材料絕大部分低壓參數(shù)的測量要求，可廣泛應(yīng)用于諸如傳聲器、諧振器、電感器、陶瓷電容器、液晶顯示器、變?nèi)荻O管、變壓器等進(jìn)行諸多電氣性能的分析及低ESR電容器和高Q電感器的測量。
TSDC/TSC--400 型熱激勵去極化電流測量系統(tǒng)（thermally stimulated depolarization currents, 簡寫為TSDC或TSC）是電介質(zhì)材料在受熱過程中建立極化態(tài)或解除極化態(tài)時所產(chǎn)生的短路電流?；痉椒ㄊ菍⒃嚇訆A在兩電極之間，加熱到一定溫度使樣品中的載流子激發(fā)，然后施加一個直流的極化電壓，經(jīng)過一段時間使樣品充分極化，以便載流子向電極漂移或偶極子充分取向，
YDB-03型非接觸式表面電壓測量儀是一款應(yīng)用于壓電陶瓷，壓電薄膜等極化后，采用非接觸方式測量其表面的電壓，電流等功能的實(shí)驗(yàn)裝置，同時測量絕緣體、半導(dǎo)體或?qū)w表面電位測量，可以配合軟件進(jìn)行曲線成圖分析，是在目前材料表面電壓測量中是重要的科研設(shè)備。
GWJDN-800型四通道高低溫介電測量系統(tǒng)應(yīng)用于高溫環(huán)境下材料、器件的導(dǎo)電、介電特性測量與分析，通過配置不同的測試設(shè)備，完成不同參數(shù)的測試。是一代高溫介電測試系統(tǒng)，性能*，*科研級別的精密測試裝置，是國家科研院所和高等學(xué)府的設(shè)備。
ZJ-3型壓電薄膜測試儀是一款即可測量薄膜材料的D33系數(shù)，也可以測量塊體材料的靜壓電D33系數(shù)，該設(shè)備測試數(shù)據(jù)準(zhǔn)確，性能穩(wěn)定，不僅是可以用科學(xué)研究，還可以用于壓電材料的生產(chǎn)，目前在國內(nèi)外廣泛使用.
目前常規(guī)的方法是通過電滯回線計(jì)算高壓下電介質(zhì)的能量密度，測試時，樣品的電荷是放回到高壓源上，而不是釋放到負(fù)載上，通過電滯回線測得的儲能密度一般會大于樣品實(shí)際釋放的能量密度，無法正確評估電介質(zhì)材料的正常放電性能。DCD-100儲能型電介質(zhì)充放電測試系統(tǒng)專為研究儲能電介質(zhì)材料快速充放電性能而設(shè)計(jì)，適用陶瓷、薄膜材料，可進(jìn)行變溫下的欠、過阻尼充放電測試。是目前研究儲能材料的重要科研設(shè)備，是目前高等院校和
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