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壓電材料測(cè)試儀（準(zhǔn)靜態(tài)d33/d31（+d15）測(cè)量?jī)x）是為測(cè)量壓電材料的d33常數(shù)而設(shè)計(jì)的儀器，它可用來(lái)測(cè)量具有大壓電常數(shù)的壓電陶瓷，小壓電常數(shù)的壓電單晶及壓電高分子材料。此外，也可測(cè)量任意取向壓電單晶以及某些壓電器件的等效壓電d33/d15常數(shù)，儀器測(cè)量范圍寬，分辨率細(xì)，可靠性高，操作簡(jiǎn)單。

粉末材料電阻率測(cè)試儀是運(yùn)用四端子法或四探針?lè)y(cè)試粉末電阻率的測(cè)量?jī)x器，該儀器采用通用的電流、電壓四端子測(cè)量法（儀器電流源和電壓表兩個(gè)單元分別從獨(dú)立回路連至電極同時(shí)和樣品接觸），可以消除電極與連接導(dǎo)線(xiàn)導(dǎo)通電阻產(chǎn)生的誤差，克服了傳統(tǒng)的二端法測(cè)量粉末電阻率儀器的弊病，可以真實(shí)地、準(zhǔn)確地測(cè)量出粉末樣品的電阻率，因此重復(fù)性也好。

ZJ-3壓電材料測(cè)試儀（靜壓電系數(shù)d33測(cè)量?jī)x）是為測(cè)量壓電材料的d33常數(shù)而設(shè)計(jì)的儀器，它可用來(lái)測(cè)量具有大壓電常數(shù)的壓電陶瓷，小壓電常數(shù)的壓電單晶及壓電高分子材料。

高溫介電溫譜測(cè)試儀主要應(yīng)用于高溫下材料的介電性能測(cè)試與分析，包括介電常數(shù)、介電損耗、電容等參數(shù)，同時(shí)測(cè)試出測(cè)試材料的其他阻抗參數(shù)，廣泛應(yīng)用于陶瓷材料、半導(dǎo)體器件及功能薄膜材料等研究 。

JKZC-JD01高頻絕緣材料介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試系統(tǒng)由測(cè)試裝置（夾具）、型高頻主機(jī)、數(shù)據(jù)采集和tanδ自動(dòng)測(cè)量控件及校準(zhǔn)電感器組成。依據(jù)國(guó)標(biāo)GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標(biāo)ASTM D150以及國(guó)際電工委員會(huì)IEC60250的規(guī)定設(shè)計(jì)制作。系統(tǒng)提供了絕緣材料的高頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)自動(dòng)測(cè)量的解決方案。本儀器中測(cè)試裝置是由平板電容器組成，平

HTIM-1001型高溫絕緣電阻測(cè)試儀根據(jù)歐姆定律，被測(cè)電阻Rx等于施加電壓V除以通過(guò)的電流I。傳統(tǒng)的高阻計(jì)的工作原理是測(cè)量電壓V固定，通過(guò)測(cè)量流過(guò)取樣電阻的電流I來(lái)得到電阻值。從歐姆定律可以看出，由于電流I是與電阻成反比，而不是成正比，所以電阻的顯示值是非線(xiàn)性的，即電阻無(wú)窮大時(shí)，電流為零，即表頭的零位處是∞，其附近的刻度非常密，分辨率很低。整個(gè)刻度是非線(xiàn)性的。又由于測(cè)量不同的電阻時(shí)，其電壓V也