描述：JKZC-JDS04型材料介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試系統(tǒng)是一款專用介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試系統(tǒng)由S916測試裝置（夾具）、高頻Q表、數(shù)據(jù)采集和tanδ自動測量控件、及LKI-1型電感器組成。依據(jù)國標GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標ASTM D150以及國際電工委員會IEC60250的規(guī)定設(shè)計制作。

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生產(chǎn)廠家
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2025-04-21
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JKZC-JDS04型材料介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試系統(tǒng)

JKZC-JDS04型材料介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試系統(tǒng)

關(guān)鍵詞：介電常數(shù)（ε）和介質(zhì)損耗（tanδ），塊體，粉末

JKZC-JDS04型材料介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試系統(tǒng)是一款專用介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試系統(tǒng)由S916測試裝置（夾具）、高頻Q表、數(shù)據(jù)采集和tanδ自動測量控件、及LKI-1型電感器組成。依據(jù)國標GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標ASTM D150以及國際電工委員會IEC60250的規(guī)定設(shè)計制作。系統(tǒng)提供了絕緣材料的高頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)自動測量的解決方案。本儀器中測試裝置是由平板電容器組成，平板電容器一般用來夾被測樣品，配用Q表作為指示儀器。絕緣材料的損耗角正切值是通過被測樣品放入平板電容器和不放樣品的Q值變化和厚度的刻度讀數(shù)通過公式計算得到。高頻Q表具有自動計算介電常數(shù)（ε）和介質(zhì)損耗（tanδ）。

一 JKZC-JDS04型材料介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試系統(tǒng)本設(shè)備適用標準
1 GBT 1409-2006 測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長存內(nèi))下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法
2 GBT 1693-2007 硫化橡膠介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測定方法
3 ASTM-D150-介電常數(shù)測試方法
4 GB9622.9-88/SJT 11043-1996 電子玻璃高頻介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的測試方法

二 JKZC-JDS04型材料介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試系統(tǒng)主要測試材料:
1 固體材料：絕緣導(dǎo)熱硅膠,石英晶玻璃,陶瓷片,薄膜,OCA光學(xué)膠,環(huán)氧樹脂材料,塑料材料,FR4 PCB板材, PA尼龍/滌綸,PE聚乙烯,PTFE聚四氟乙烯,PS聚苯乙烯,PC聚碳酸旨,PVC,PMMA,大米,豬肉等 2 液體材料：去離子水,全氟聚醚,果汁,甲醇,油類等

三 AS2855介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試系統(tǒng)系統(tǒng)組成：

1 主機：JKZC-JDS04型材料介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試系統(tǒng)主機

功能名稱：	JKZC-JDS04-A主機QBG-3E	JKZC-JDS04-B主機QBG-3F	JKZC-JDS04-C主機AS2853A
信號源范圍DDS數(shù)字合成信號	20HZ-1MHz	10KHZ-/70MHZ/110MHz	100KHZ-160MHz
信號源頻率精度:6位有效數(shù)	3×10-5 ±1個字	3×10-5 ±1個字	3×10-5 ±1個字
Q測量范圍	1-1000自動/手動量程	1-1000自動/手動量程	1-1000自動/手動量程
Q分辨率	4位有效數(shù),分辨率0.1	4位有效數(shù),分辨率0.1	4位有效數(shù),分辨率0.1
Q測量工作誤差	<5%	<5%	<5%
電感測量范圍:4位有效數(shù),分辨率0.1nH	1nH-8.4H , 分辨率0.1nH	1nH-8.4H 分辨率0.1nH	1nH-140mH分辨率0.1nH
電感測量誤差	<5%	<5%	<5%
調(diào)諧電容	主電容30-540pF	主電容30-540pF	主電容17-240pF
電容直接測量范圍	1pF～2.5uF	1pF～2.5uF	1pF～25nF
調(diào)諧電容誤差分辨率	±1 pF或<1% 0.1pF	±1 pF或<1% 0.1pF	±1 pF或<1% 0.1pF
諧振點搜索	自動掃描	自動掃描	自動掃描
LCD顯示參數(shù)	F，L，C，Q，Lt，Ct等	F，L，C，Q，Lt，Ct，Tn，Er等	F，L，C，Q，Lt，Ct，Tn，Er等
殘余電感自動扣除功能	有	有	有
大電容值直接測量顯示功能	測量值可達2.5uF	測量值可達2.5uF	測量值可達25nF
介質(zhì)損耗系數(shù)	精度萬分之一	精度萬分之一	精度十萬分之五
介電常數(shù)	精度千分之一	精度千分之一	精度千分之一
材料測試厚度	0.1mm-15mm	0.1mm-15mm	0.1mm-15mm
介電常數(shù)	自動測試	自動測試	自動測試
USB接口			支持介電常數(shù)輸出以及產(chǎn)生曲線
介電常數(shù)		介質(zhì)損耗
USB接口上位機（介電常數(shù)曲線）
2介電常數(shù)εr和介質(zhì)損耗因數(shù)tanδ測試裝置：
固體電極：材料測量直徑 Φ38mm/Φ6mm 可選；厚度可調(diào) ≥ 15mm （二選一）　　液體電極：測量極片直徑 Φ38mm；液體杯內(nèi)徑Φ48mm 、深7mm（選配）

3 LKI-1電感組

電感No	電感量	準確度%	Q值≥	分布電容約略值	諧振頻率范圍 MHz		適合介電常數(shù)測試頻率
電感No	電感量	準確度%	Q值≥	分布電容約略值	QBG-3E/F	AS2853A	適合介電常數(shù)測試頻率
1	0.1μH	±0.05μH	200	5pF	20~70	31~103	50MHz
2	0.5μH	±0.05μH	200	5pF	10~37	14.8~46.6	15MHz
3	2.5μH	±5%	200	5pF	4.6~17.4	6.8~21.4	10MHz
4	10μH	±5%	200	6pF	2.3~8.6	3.4~10.55	5MHz
5	50μH	±5%	200	6pF	1~3.75	1.5~4.55	1.5MHz
6	100μH	±5%	200	6pF	0.75~2.64	1.06~3.20	1MHz
7	1mH	±5%	150	8pF	0.23~0.84	0.34~1.02	0.5MHz
8	5mH	±5%	130	8pF	0.1~0.33	0.148~0.39	0.25MHz
9	10mH	±5%	90	8pF	0.072~0.26	0.107~0.32	0.1MHz
10	0.05μH	±5%	100	5pF			100MHz

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